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D&S太陽光譜反射儀 SSR-ER：符合ASTM C1549-04、E891-87 等標準
更新時間：2025-04-17
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在太陽能材料、節(jié)能建筑、光學涂層和航空航天等高精尖領域，對材料在不同太陽輻照條件下的反射特性有著嚴格的測量需求。D&S太陽光譜反射儀 SSR-ER：符合ASTM C1549-04、E891-87 等標準，正是為滿足這一需求而打造的一款高精度、多功能光譜測量設備。
設備概述
SSR-ER v6 采用可選擇的太陽光譜測量模式，精確模擬多種全球與直射太陽輻照度模型，適用于各種漫反射與鏡面材料，包括厚度達6.4毫米的二次反射面。其測量分辨率達0.001單位，重復性優(yōu)于0.003單位，為太陽反射率與吸收率測量樹立了新標準。
核心技術與優(yōu)勢
六通道光譜探測系統(tǒng)
SSR-ER v6 搭載四個實際光譜探測器（UV、藍光、紅光、紅外），并通過在較低色溫（~2300K）下對紅光和紅外通道重采樣，生成兩個虛擬探測器。總共六個通道的組合使得設備能夠匹配多種太陽光譜模型，包括：
ASTM G173 AM1.5（全球與直射）
ASTM E891 AM1.5
AM0（空間用）、AM1（地面用）不同分量
近紅外光譜（780nm+）、CIE D65 可見光模型
模擬 SSR v5 各版本輸出
未來新標準也可通過固件升級或RAM上傳方式進行擴展支持。
2. 精確而穩(wěn)定的測量機制
測量采用鎢鹵素燈光源進行漫反射照明，樣品反射的光在距法線20度角度被探測器接收。根據(jù)光學互易原理，這一設計可模擬太陽光以20度入射時的反射效果。測量周期為8秒，其中6秒用于背景校正，2秒進行讀數(shù)采樣，避免了熱漂移與偏移問題。
3. 高標準溯源校準
設備配備NIST 溯源的漫反射與鏡面標準板，與美國國家標準材料編號2019與2023一致。此外，系統(tǒng)還內置黑體腔體，用于將系統(tǒng)偏移歸零。
每臺儀器出廠時都通過一組參考顏色磚進行光譜校準，這些磚塊覆蓋從UV到IR的反射范圍，并隨設備附帶校準記錄卡。用戶還可將多達五組工作標準數(shù)據(jù)儲存在內存中，便于現(xiàn)場快速切換與長期追蹤校準狀態(tài)。
4. 多模式數(shù)據(jù)輸出與操作便捷性
操作面板支持：
切換顯示反射率與吸收率
單通道數(shù)據(jù)讀取（如僅顯示IR或UV通道）
“保持"功能凍結當前測量值
自動/手動串口輸出數(shù)據(jù)
向后兼容SSR v5輸出格式
5. 優(yōu)秀的擴展能力與便攜性
SSR-ER 提供多種擴展選項，使其適應更廣泛的測量應用：
非平面適配器：可測量直徑小至13mm的圓柱面。
手柄模塊：便于手持測量。
12V便攜電源包：鋰電池供電，連續(xù)運行達5小時。
透射率測量附件（SSR-T）：用于測量總太陽透射率，支持入射角0–60°調節(jié)。
技術規(guī)格一覽
| 參數(shù) | 值 |
|---|---|
| 分辨率 | 0.001單位 |
| 重復性 | ±0.003單位 |
| 精度偏差 | ±0.002單位（標準太陽光譜下） |
| 顯示器 | 4位液晶數(shù)字顯示 |
| 測量周期 | 8秒/次 |
| 工作溫度 | 電子模塊 60°C，測頭/附件 50°C |
| 濕度限制 | ≤80% RH |
| 樣品尺寸要求 | 反射 ≥2.8cm直徑，透射 ≥4.2cm直徑 |
| 測頭重量 | 0.9kg |
| 主機重量 | 1.8kg |
| 透射模塊重量 | 4.5kg |
| 電源 | 100–240V AC，50/60Hz（全球通用） |
應用領域
SSR-ER Version 6 可廣泛應用于以下領域：
建筑節(jié)能材料檢測：如屋頂涂層、Low-E玻璃、保溫墻面
太陽能技術：光熱鏡面、光伏組件涂層性能檢測
航空航天材料評估：如熱控涂層、反射膜等
新材料研究與開發(fā)：光學特性分析
工業(yè)質量控制與來料檢驗
SSR-ER 第六代太陽光譜反射儀集高精度、多波段測量、強大的校準系統(tǒng)與便捷操作于一體，是現(xiàn)代材料光譜分析的重要工具。其模塊化設計與豐富選配件，使其不僅適用于實驗室，也能勝任戶外便攜測試。無論是科研單位、材料制造商，還是質量控制機構，SSR-ER 都是提升測量效率與精準度的不錯選擇。
